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日本sanko三高进口SL-200E电磁模拟膜厚仪
日本sanko三高进口SL-200E电磁模拟膜厚仪
探头尺寸小,适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小,适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小,适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度
测量范围
I:0~50μm II:0~500μm
测量精度
均匀表面上显示值的 ±1 μm 或 ±2%
电源
DC:AA 电池 (1.5V) x 8
AC:100V,50/60Hz(使用交流适配器)
工作温度
0 至 40°C(无冷凝)机身尺寸190(宽)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件标准厚度板、AC适配器、肩包探测2极型,磁极直径φ2.5,极距5mm尺寸:10(W)×17(H)×21(D)mm